AOI-1 IC 外觀 AI AOI 檢測機

您正在尋找高速且準確的 AOI 機台給合檢區使用嗎？您正為了人工誤判、檢測速度慢、瑕疵品客訴而煩惱嗎？ LEADERG A1 是您的最佳選擇！ :)

 

LEADERG AOI-1 for Final Visual 白底實照.png

 

 

 

 

 

製程任務：

 

最終外觀目驗（Final Visual Inspection, FVI），是封測 IC 出貨前品質的最後一道防線。

 

立達 LEADERG AOI-1 for Final Visual 自動化機台可以為您的產品做外觀瑕疵上的最後把關，並提供高效率、高精度的良率變化分析。

 

 

 

過去您僅有的選擇：

 

1.  採人工目視檢測：

 

-  人眼辨識能力有限，長久作業且易產生視覺疲勞

-  作業員主觀認定瑕疵與否，差異性高

-  漏判（underkill）機率高

-  耗費大量人力、時間、管理與金錢成本

 

2.  採用其他自動光學 AOI 系統檢測：

 

-  進口機台售價高昂，機台保養、維修曠日費時

-  售後服務有限，當廠內需求變更，無法就進行「即時、機動」調整

-  不一定能達成檢測速度、良率要求

 

 

 

 

立達雲端自動光學檢測（Cloud-based AOI）機台

LEADERG A1 for Final Visual 

給您的優勢與保證：

 

 

LEADERG AOI-1 for Final Visual-1.jpg

 

 

 

1. 在地「軟硬體整合」設計，緊扣您的生產脈動：

 

．「在地化」客製服務：可配合您生產線上的獨特需求，由本地工程師進行調機、試機、改機等客製化服務，服務零時差。

 

．「一條龍」設計：軟硬體統合規劃，幫您把成本花在刀口上；軟體可依需求即時更新，高品質硬體零件在地取得，機動性高。

 

 

2. 精心打造硬體機構，在地的價格，進口的品質：

 

．通體「不鏽鋼」高工藝機殼：延長機台使用年限，為您節省維修成本。

 

．「多點指示」：可「同時」指出多個瑕疵部位，效益加倍。

 
 

3. 三大獨門技術，顛覆業界現有標準：

 

．獨家「雲端運算」科技：高效軟體演算法＋雲端運算技術，運算能力強，檢錯率低（underkill rate）、誤判率（overkill rate）低，檢測效果優於業界標準！

 

．獨家「即時控制」技術：採用高速攝影機，可於機器手臂運動中取像，檢測速度（UPH）大躍進！

 

．獨家「巨量資料處理」技術：可「即時」分析產品良率變化，幫您找出生產線上問題癥結！

 

 

 

精準、迅捷、性價比破表！

以最經濟的成本，為您達成最高的效益！

選擇立達，績效立達！

 
 

 

 

 

LEADERG AOI-1 for Final Visual 操作畫面.png

 

（LEADERG AOI-1 for Final Visual 機台，操作畫面）

 

 

 

 

LEADERG AOI-1 for Final Visual 圖表顯示.png

 

（LEADERG AOI-1 for Final Visual 機台，良率分析功能）

 

 
 

 

LEADERG Cloud-based AOI Architecture-1.png

 

（立達雲端光學檢測 AOI 機台，雲端運算技術）

 

 

 

檢測項目：

 

Wire Exposure 露金線/錫渣
Void 氣洞
Scratch 刮痕
Contamination 汙染
Crack 裂痕
Chip Out 崩缺
Reversed IC IC 反向
Foreign Material 異物殘留
Transfer Mark 轉印痕
Abnormal Pin 1 Hole Pin 1 孔異常
End Flash 膠膜殘留
Lead Bent 腳歪
Lead Length 腳長短
Lead Width 腳寬
Lead Total Range 腳全距
Lead Broken 斷腳
Lead Foreign 腳異物
Lead Shoulder 無肩膀
Incomplete Cut 去結未斷
Mold Flash 導腳溢膠
Mark Shift X 印字偏移 X
Mark Shift Y 印字偏移 Y
Mark Brightness 印字明暗
Mark Broken Letter 印字缺劃
Nozzle Mark 吸嘴印
Claw Mark 貓爪痕
Invalid 失效

 

 

誠摯歡迎您與我們聯絡，讓我們為您服務，

量身打造高品質的新一代自動化生產線檢測系統！  

 

 

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